電化學(xué)顯微鏡為表面科學(xué)測(cè)量提供了一個(gè)新的途徑，開(kāi)爾文探針是一種無(wú)接觸，無(wú)破壞性的儀器，可以用于測(cè)量導(dǎo)電的、半導(dǎo)電的，或涂覆的材料與試樣探針之間的功函差。這種技術(shù)是用一個(gè)振動(dòng)電容探針來(lái)工作的，通過(guò)調(diào)節(jié)一個(gè)外加的前級(jí)電壓可以測(cè)量出樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。

　　功函和表面狀況有直接關(guān)系的理論的完善使SKP成為一種很有價(jià)值的儀器，它能在潮濕甚至氣態(tài)環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量的能力使原先不可能的研究變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)。

　　電化學(xué)顯微鏡是一款精密的掃描微電極系統(tǒng)，具有*空間分辨率，在溶液中可檢測(cè)電流或施加電流于微電極與樣品之間。

　　電化學(xué)顯微鏡用于檢測(cè)，分析，或改變樣品在溶液中的表面和界面化學(xué)性質(zhì)。掃描振動(dòng)電極技術(shù)是一種非破壞性掃描，利用振動(dòng)探針，測(cè)量電化學(xué)化學(xué)樣品表面產(chǎn)生的電特性。確保用戶可以實(shí)時(shí)測(cè)定和定量局部電化學(xué)反應(yīng)以及腐蝕。

　　電化學(xué)顯微鏡是一種無(wú)接觸，無(wú)破壞性的儀器，可以用于測(cè)量導(dǎo)電，涂膜，或半導(dǎo)體材料，與樣品探針之間的功函差。這種技術(shù)是用一個(gè)振動(dòng)電容探針來(lái)工作的，通過(guò)調(diào)節(jié)一個(gè)外加的前級(jí)電壓測(cè)量樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。功函和表面狀況相關(guān)。電化學(xué)顯微鏡的*性質(zhì)使在潮濕環(huán)境甚至是氣態(tài)環(huán)境中也可以測(cè)量，將不可能研究變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)。